CIS線掃相機(jī)如何改變檢測(cè)行業(yè)
在印刷質(zhì)量檢測(cè)項(xiàng)目中,過(guò)去采用傳統(tǒng)的線掃相機(jī)。在選擇時(shí),需要考慮圖像的視野范圍、安裝空間以及相應(yīng)的鏡頭光源和相機(jī),以確保檢測(cè)的準(zhǔn)確性和效率。然而,隨著CIS線掃相機(jī)的出現(xiàn),這一傳統(tǒng)模式正逐漸被顛覆。
在印刷質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域,非接觸式線掃相機(jī)正逐漸成為新寵。優(yōu)勢(shì)如高分辨率、快速掃描速度和無(wú)縫檢測(cè),逐漸替代了傳統(tǒng)的線掃相機(jī)。其非接觸式的檢測(cè)方式,不僅提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性,還確保了印刷品的完好無(wú)損。
非接觸式線掃相機(jī)采用先進(jìn)的成像技術(shù),其核心原理在于通過(guò)高速掃描和精確成像,實(shí)現(xiàn)對(duì)印刷品的無(wú)損檢測(cè)。這種相機(jī)能夠連續(xù)捕捉印刷品的線性圖像,并對(duì)其進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和處理,從而得出準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。其非接觸式的檢測(cè)方式,不僅保證了檢測(cè)的高效率,更確保了印刷品的完整性和檢測(cè)結(jié)果的可靠性。
接觸式圖像傳感器是一種新型光電成像傳感器,在線陣CCD和CMOS技術(shù)之后逐漸發(fā)展成熟。它通過(guò)緊密排列的感光單元直接捕獲被掃描物體反射的光線,從而進(jìn)行掃描。與傳統(tǒng)的掃描相機(jī)相比,CIS無(wú)需透鏡組,因此結(jié)構(gòu)更為緊湊。CIS主要由光源陣列、微自聚焦棒狀透鏡陣列、光電傳感器陣列及其電路板、保護(hù)玻璃和外殼等部件構(gòu)成。
CIS寬幅線掃相機(jī),搭載CMOS彩色傳感器,內(nèi)置LED光源與鏡頭,兼具彩色與灰度圖像采集功能。其掃描方式使得圖像與目標(biāo)物實(shí)現(xiàn)1:1精準(zhǔn)還原,無(wú)畸變產(chǎn)生,無(wú)需校正,確保色彩真實(shí)。此外,CIS相機(jī)的光源系統(tǒng)極為靈活,可根據(jù)檢測(cè)目標(biāo)定制內(nèi)部光源,并與外部光源系統(tǒng)兼容,適應(yīng)多樣化的檢測(cè)需求。
CIS相機(jī)憑借其整體集成性高、傳感器體積小巧等優(yōu)勢(shì),在微距檢測(cè)方面表現(xiàn)出色,能夠?qū)崿F(xiàn)掃描圖像1:1無(wú)畸變的高精度還原。其緊湊的安裝空間、簡(jiǎn)便的安裝調(diào)試過(guò)程,以及產(chǎn)品一體化設(shè)計(jì),使得單面/雙面同步在線檢測(cè)成為可能。這些設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)讓CIS相機(jī)在眾多領(lǐng)域開始逐步替代傳統(tǒng)CCD相機(jī),特別是在工業(yè)領(lǐng)域的平面產(chǎn)品(如玻璃、橡膠、薄膜等)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方面,CIS相機(jī)展現(xiàn)出了巨大的應(yīng)用潛力。
相較于傳統(tǒng)線掃相機(jī)需多臺(tái)拼接且邊緣易產(chǎn)生畸變,CIS工業(yè)線掃相機(jī)憑借其單臺(tái)即可覆蓋全寬范圍的能力,實(shí)現(xiàn)了1:1的精準(zhǔn)成像,從而消除了邊緣畸變的問(wèn)題。CIS工業(yè)線掃相機(jī)采用傳感器、光源與鏡頭的一體化設(shè)計(jì),使得其結(jié)構(gòu)更為緊湊,安裝過(guò)程也更加簡(jiǎn)便快捷。
CIS線掃相機(jī)在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用,特別是連續(xù)材料的表面缺陷檢測(cè)。它廣泛應(yīng)用于PCB檢測(cè)、鋰電薄膜檢測(cè)、印刷包裝檢測(cè)、光伏面板檢測(cè)、金屬板材檢測(cè)、玻璃檢測(cè)、布匹紡織檢測(cè)、蜂窩陶瓷檢測(cè),以及掃描儀/復(fù)印機(jī)等領(lǐng)域。在檢測(cè)過(guò)程中,待測(cè)物以勻速通過(guò)相機(jī),相機(jī)則對(duì)其進(jìn)行連續(xù)掃描,從而有效檢測(cè)出物體表面的各種缺陷。
①在PCB領(lǐng)域,CIS線掃相機(jī)能檢測(cè)出元件的缺失、開路短路問(wèn)題,同時(shí)還能測(cè)量線寬線徑、字符、表面瑕疵,以及精確檢測(cè)孔徑大小和孔徑位置等。
②鋰電薄膜檢測(cè):通過(guò)CIS線掃相機(jī),可以詳細(xì)檢查鋰電薄膜的表面狀況,包括孔洞、劃痕、臟污、異常重疊、不均勻以及寬度測(cè)量等。